菲希尔、X射线测厚仪、XDL230信息

X 射线荧光 XRF，无损检测，从上往下垂直照射样品，用于镀层厚度测量 + 材料元素分析，台式实验室机型，属于 XDL 系列中端款

核心配置（XDL230 区别同系列）

- XY 工作台：手动 XY 移动平台；Z 轴：电动马达驱动 Z 轴（XDL210 固定 Z，XDL220 电动 Z 无 XY，XDL240 是全自动电机 XY+Z）

- DCM 距离校正技术：曲面、异形零件可自动补偿测量距离，复杂工件测量优势明显

- 最小测量光斑：φ0.2mm，微小点位镀层检测

- 钨靶 X 射线管 + 比例计数管探测器，测量速度快

- 高清彩色视频显微镜 + 十字标线 + 激光定位，可放大观察定位测点

- C 型开槽防护罩：可以测量大于腔体的大板件（PCB 电路板等），不用把工件整体放进机仓内

- 样品最大高度：140 mm

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