菲希尔X射线荧光分析基础和重要仪器性能

菲希尔X射线荧光分析基础和重要仪器性能

过去，X射线荧光分析(XRF)主要用于地质学。如今，它已成为工业和实验室的关键技术。这种方法非常通用:它可以检测从钠到铀的所有相关化学元素。

XRF通常用于材料分析，即确定样品中给定物质的含量，如根据RoHS指令测量珠宝中的金含量或检测日常物品中的有害物质。此外，XRF还可用于测量涂层厚度:快速、环保、无损。

菲希尔X射线荧光分析基础和重要仪器性能

测量就是这样进行的。

当X射线设备开始测量时，X射线管发出高能辐射，也称为“初级"辐射。当这些X射线击中样品中的原子时，它们会增加能量——也就是说，它们会“激发"原子——并使原子在其原子核附近发射电子，这一过程称为“电离"。因为这种状态是不稳定的，所以来自较高电子层的电子移动来填充间隙，从而发出“荧光"辐射。

这种次级辐射的能级类似于指纹:它是每一种元素的特征。检测器接收荧光并将信号数字化。信号处理后，设备产生光谱:检测到的光子能级绘制在X轴上，其频率(计数率)绘制在Y轴上。样品中的元素可以根据光谱中的峰值位置(X轴方向)来识别。这些峰的水平(Y轴方向)提供了关于元素浓度的信息。