菲希尔库伦法测厚仪Couloscope CMS2 STEP介绍

菲希尔库伦法测厚仪Couloscope CMS2 STEP介绍

CouloScope CMS2 STEP菲希尔库伦法测厚仪在电镀行业中，对多层镍镀层中各自层的同时的厚度和电极电位的测定变成了一个越来越重要的需求。的多镀层组成为不含硫的半光亮镍层和含硫的光亮镍层。这两个镍层间足够的电位差导致了光亮镍层优先腐蚀于半光亮镍层。这种次序也就延迟了整个镍层的穿透速度，并且给了基材相对于单镀层更好的防腐保护。 CouloScope CMS2 STEP菲希尔库伦法测厚仪根据库仑电量分析法进行测量，符合 DIN EN ISO 2177、50022 和 ASTM B764标准

CouloScope CMS2 STEP菲希尔库伦法测厚仪通过电位差测试仪器可以简便的对镍镀层之间的电化学的电位差进行测量。 可以用于测量铜基层、镍多层涂层和铬涂层的厚度。

CouloScope CMS2 STEP菲希尔库伦法测厚仪可以通过定位于电位-时间表中相关部分的双指针来方便地测出镀层厚度和电位差。这个图表能够外部保存或通过RS232转换到PC电脑中。

COULOSCOPE CMS基本配置：

仪器：            Couloscope CMS

测量台：          V24、V26、V18 等

电解液：          F1 ～ F22