菲希尔XAN250 X射线测厚仪信息

　　FISCHERSCOPE XAN 250菲希尔X射线荧光测量仪概述：

　　高性能X射线荧光测量仪，配有非常先进的硅漂移探测器(SDD)，可快速、无损地进行RoHS检测、材料分析和镀层厚度测量。

　　FISCHERSCOPE XAN 250菲希尔X射线荧光测量仪特点：

　　高性能机型，具有强大的综合测量能力

　　配有4 个电动调节的准直器和6个电动调节的基本虑片

　　配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD)，还适用于更复杂的多元素分析

　　由下至上的测量方向，可以非常简便地实现样品定位

　　FISCHERSCOPE XAN 250 X射线荧光测量仪典型应用领域：

　　对电子和半导体行业中仅几个纳米的功能性镀层进行测量

　　对有害物质进行痕量分析，例如，玩具中的铅含量

　　在珠宝和手表业，以及在金属精炼领域，对合金进行高精度的分析

　　用于高校研究和工业研发领域