菲希尔镀层测厚仪XDL230信息

德国菲希尔FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪，它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析。

德国菲希尔FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪产品简介：

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230菲希尔X射线测厚仪是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230菲希尔X射线测厚仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器，比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了FISCHER基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。