菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDL210、信息

X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL-210典型的应用领域有：

 测量大规模生产的电镀部件

 测量薄镀层，例如装饰铬

 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

 全自动测量，如测量印刷线路板

 分析电镀溶液

菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDL-210设计理念

菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDL 设计为界面友好的台式测量仪器系列。我们会根据样品平台的运行模式以及固定或者可调节的Z 轴系统来设定不同型号的仪器以满足实际应用的需求。

菲希尔X射线测厚仪