菲希尔代理FISCHER X射线测厚仪XDL240信息

菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 典型应用领域

XDL 240作为能量色散型X射线荧光测厚及分析仪，主要服务于以下场景：

1. 大规模生产部件检测

• 电镀零部件（如螺钉、连接器）的镀层厚度测量

• 印刷电路板（PCB）的全自动化镀层检测

2. 超薄镀层分析

• 装饰性镀层（如铬镀层）的精准测量

• 电子/半导体工业中的功能性镀层（如Au/Ni、Ag/Ni）分析

3. 溶液与工艺监控

• 电镀槽液成分分析（如金属含量测定）

• 生产流程中的实时质量控制与进料检验

核心特点与优势

1. 高精度与稳定性

• 比例接收器技术：实现高计数率（>100,000 cps），确保测量精度达纳米级

• 长期稳定性：减少校准频率，节省维护成本（证据显示校准周期延长50%以上）

2. 全参数法支持无标样分析

• 基于FISCHER基本参数法（FP法），可直接分析固体、液体样品及复杂镀层系统，无需依赖标准片

3. 自动化与模块化设计

• 马达驱动平台：

• XY工作台自动移动至加载位置（保护罩开启时）

• 可编程Z轴（精度0.01mm），支持批量样品连续测量