菲希尔代理XULM240 X射线测厚仪信息

一、菲希尔X射线XULM240产品定位与核心优势

FISCHERSCOPE X-RAY XULM 系列是德国菲希尔（Fischer）推出的高性能 X 射线荧光（XRF）镀层及材料分析仪，专为无损检测场景设计，具备以下核心竞争力：

紧凑精巧：台式设计节省空间，适合实验室及产线快速部署。

精准高效：可对微米级镀层厚度、材料元素成分（如金、银、铜、镍等）进行高精度测量，误差低至纳米级。

操作友好：直观界面搭配手动 XY 轴工作台，支持细小样品（如电子元件、首饰、半导体器件）的精准定位与批量检测。

二、菲希尔X射线XULM240核心功能解析

1. 无损检测与镀层厚度测量

技术原理：通过 X 射线激发样品表面镀层，分析荧光信号强度反推镀层厚度，无需破坏样品。

应用场景：

电子行业：PCB 板镀层、连接器镀层厚度检测。

五金 / 首饰：贵金属镀层（如镀金、镀银）厚度测量。

汽车 / 航空：零部件防腐镀层（如镀锌、镀镍）质量管控。

2. 菲希尔X射线XULM240材料成分分析

元素检测范围：可分析从钠（Na）到铀（U）的元素，支持定性（元素种类）与定量（含量占比）分析。

典型应用：

来料检验：判断原材料（如合金、涂层）是否符合成分标准。

失效分析：检测产品表面污染物或镀层成分异常。

3. 精准定位与观测系统

手动 XY 轴工作台：分辨率达微米级，支持样品平移与旋转，确保测量点无偏差。

高分辨率 CCD 摄像头：搭配可调节 LED 光源，实时放大样品细节，辅助手动聚焦，提升观测清晰度。