菲希尔代理X射线测厚仪XDL230简介

菲希尔 FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 X射线测厚仪是一款高精密能量色散型 X 射线荧光（EDXRF）检测设备，以下从其测量原理、性能优势、硬件配置、软件系统、应用领域等方面进行介绍：

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 X射线测厚仪测量原理：

X 射线荧光光谱法：基于 X 射线荧光光谱分析技术，设备通过 X 射线源发射初级射线激发样品，使元素原子内层电子跃迁产生特征 X 射线荧光。探测器精准捕获荧光的能量与强度数据，从而实现对元素成分、镀层厚度的定量分析。

基本参数法（FP 法）：内置 12 纯元素频谱库（Ag、Cu、Fe、Ni、Zn、Zr、Mo、Sn、W、Au、Pb、Cr），无需标准片即可对镀层系统、固体和液体样品进行测量和分析，同时具备 MQ 值显示，用于判断测量程式与样品匹配度，防止误操作。