英国泰勒便携式粗糙度仪Surtronic S-116信息

泰勒霍普森 Surtronic S-116 粗糙度仪凭借高精度测量与智能分析能力，为轴承生产企业突破工艺瓶颈、提升产品竞争力提供了有效解决方案。

轴承滚道的微观形貌直接影响旋转精度、摩擦力矩与使用寿命。传统工艺下，滚道表面微观起伏形成的峰谷结构会导致接触应力集中，加剧摩擦损耗。某轴承制造企业引入 Surtronic S-116 粗糙度仪后，通过对 Ra（算术平均粗糙度）、Rz（十点高度粗糙度）等核心参数的精准测量，构建起系统的表面质量评估体系。该仪器以 ±(2% + 0.004μm) 的测量精度，对不同加工工艺下的滚道表面进行数据采集，单页可显示 7 个参数的 4.3 英寸触摸屏支持多维度同步分析。

在工艺改进实践中，企业运用 Surtronic S-116 对比新旧工艺下的滚道表面数据：传统工艺生产的滚道 Ra 值为 0.8μm，Rz 值处于较高水平；采用新工艺后，Ra 值显著降至 0.4μm，Rz 值同步优化。微观表面质量的提升直接转化为产品性能突破 —— 轴承旋转精度提升 20%，摩擦力矩降低 15%，运行过程中的能量损耗显著减少；同时，由于表面应力分布更均匀，产品使用寿命延长 20%，有效降低了终端设备的维护成本。