费希尔X射线测厚仪简介

FISCHERSCOPE X - RAY XULM 240：这是一款性能好、设计紧凑的 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪，由先前的 XULM - xym 换代而来。常用于无损测量细小工件上的镀层厚度和材料分析，特别适合质量管控、来料检验及生产过程控制中的测量工作。其比例接收器能实现高计数率，进而进行高精度测量。与所有 Fischerscope x - ray 仪器一样，具备出色的精确性以及长期的稳定性，显著减少校准仪器所需的时间和精力。该仪器配备微聚焦 x 射线管以及可电动切换的视准器和基本滤片，更适合对微小型工件进行测量。其可测量单性金属镀层厚度、合金镀层厚度、双镀层厚度、双镀层（其中一层是合金）厚度、三镀层厚度等，测量小区域时，最小测量点大小约 0.09x0.09 mm ，测量厚度精度高，当 Au 厚度大于 0.1 μm 时，有标准片校准情况下 <±5%, 无标准片校准情况下 <±10% 。

FISCHERSCOPE X - RAY XAN500：这是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪，也是目前通用的 X 射线荧光系统。它特别适用于测量和分析超薄镀层以及进行材料分析。其出色的精确性和长期稳定性，大大减少了校准时间和精力。XAN500 采用先进的硅漂移探测器，能达到高分析精度及探测灵敏度。依靠菲希尔的基本参数法，可在无校验标准片校正的情况下分析固、液态样品成分及测量样品镀层厚度。该仪器为手持式便携设计，重量仅 1.9 千克，便于携带和操作，无论是大型工件还是难以触及的位置，都能轻松测量。它符合 DIN ISO 3497 和 ASTM B 568 标准，一次电池充电可持续运行 6 个小时。测量点为 3 毫米 Ø，拥有高分辨率硅漂移检测器，防护等级达到用于户外的 IP54 等级。还可选用作台式设备的测量箱，使用完整版 WinFTM® 软件进行数据统计。一次测试可同时测定镀层的厚度和成分（例如，Fe 上的 ZnNi 合金），能对未知合金进行无标准片测量，方便测量大型镀层零件（例如机器部件和外壳）以及进行电镀层的测试。其三点支撑设计使其易于正确放置，并在整个测量过程中保持稳定。此外，通过可选的测量箱，可将其快速转换为台式仪器，用于检查小零件，如螺母和螺栓 。该仪器还可整合到生产线的控制系统中，实现 100% 的质量监控 。

菲希尔 X 射线测厚仪 XDAL237：这是一款在材料分析和镀层测厚领域应用广泛的能量色散型仪器。该测厚仪配备可编程运行的 XY 轴工作台以及 Z 轴升降系统，在自动化测量方面表现出色，可精准完成超薄镀层厚度的无损测量以及材料成分分析任务。例如在珠宝制造行业，对于黄金饰品表面镀层厚度的检测，能够给出准确测量数据，助力企业确保产品质量。它还是一款界面友好的台式测量仪器，高精度且可编程运行的工作台，配合电调的 Z 轴升降系统，为自动测量提供有力保障。同时，装备的高分辨率彩色视频摄像头具备强大放大功能，可对测量位置进行精确定位，在电子元器件的镀层厚度测量中，能清晰捕捉测量点，确保测量准确性 。

德国菲希尔 FISCHER XUL \ XULM X 射线荧光镀层测厚仪：在电镀或电子元件生产过程中，若需要快速且精确地测定镀层厚度，该系列测量仪器是理想解决方案。其 X 射线荧光仪器可自下而上进行测量，能在测量台上轻松定位样品。该系列所有 X 射线仪器均配备相同探测器，用户可根据自身测量需求，选择不同的准直器、滤波器以及 X 射线管。凭借宽大的测量室和自下而上的测量方向，即使大型样品（如：印制电路板或柔性电路板）也可简便、快速地定位。丰富多样的硬件选项，可满足各种测量需求。还可选配微聚焦 X 射线管，用于测量直径仅为 100 µm 的微型结构和测量表面 。

菲希尔合金分析仪 X 射线荧光镀层测厚仪：采用基本参数法，内置 12 纯元素频谱库，可在无标准片校准情况下进行测量。拥有 windows7 以上中文操作界面，搭配 WinFTM 专业测试软件，具备连接 PC 和打印机的 USB 接口。其元素测量范围为 Cl（17）--U（92），最多可测量 24 种元素 23 层镀层。手动 X/Y 平台移动范围≥95x150mm，可用工作台面≥420x450mm 。电动 Z 轴支持手动 / 自动聚焦，可移动范围≥140mm 。采用 DCM（测量距离补偿法）可远距离对焦测量腔体样品，可达 80mm 深度 。满足可变高压 30KV,40KV,50KV 三种可调节，以适应不同测试需求。标配准直器为 φ0.3 的圆形准直器 。X 射线探测器为比例接收器。具备完整的统计计算功能，数据组带时间和时期功能，统计功能包含平均值、标准偏差、最大值、最小值等；还可输入公差范围，计算 CP 和 Cpk 值，超范围值时仪器会自动报警提示。测量误差方面，当镀层厚度≥0.5um 时，顶层镀层测量精度≤5% 。具备 MQ 值显示，用于判定测量程式是否与样品匹配，避免误操作。标准片配备 12 种基准纯元素（Ag,Cu,Fe,Ni,Zn,Zr,Mo,Sn,W,Au,Pb,Cr） 。此外，还具备高分辨率 CCD 摄像头，放大倍数 40 - 160 倍 。

菲希尔 X 射线测厚仪 XDL240：运用 X 射线荧光光谱法，采用无损检测方式，具备自动聚焦功能，可保障样品完整性与测量准确性。在硬件性能方面，配备电动 X/Y 平台，移动范围≥95x150mm，可用工作台面≥420x450mm，保护门开启时，工作台自动移到放置样品位置，操作便捷；电动 Z 轴支持手动 / 自动聚焦，移动范围≥140mm，可适配不同高度样品；采用测量距离补偿法 (DCM)，可实现 80mm 深度的腔体样品远距离对焦测量；可变高压支持 30KV、40KV、50KV 三档调节，可根据不同测试样品和场景灵活选择；标配 φ0.3 的圆形准直器，还有多种准直器可供选择；采用比例接收器作为 X 射线探测器，确保数据准确可靠；内置高分辨率 CCD 摄像头，放大倍数 40 - 160 倍，沿初级 X 射线光束方向观察测量位置，配备手动聚焦、十字线 (带有经过校准的刻度和测量点尺寸) 以及可调节亮度的 LED 照明，还有激光光点用于准确定位样品 。