菲希尔X射线测厚仪FISCHER代理 XDL230信息

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230核心测量技术

菲希尔代理测量原理

运用 X 射线荧光光谱法，实现对镀层厚度的精准测量。设备通过 X 射线源发射初级射线激发样品，使元素原子内层电子跃迁产生特征 X 射线荧光。探测器精准捕获荧光的能量与强度数据，从而实现对元素成分、镀层厚度的定量分析。

测量方式

无损检测，具备自动聚焦功能，保障样品完整性与测量准确性。在测量过程中不会对样品造成任何物理损伤，可对样品进行多次重复测量 。

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230元素测量范围

涵盖 Cl（17） - U（92），最多可同时测量 24 种元素、23 层镀层。能够满足复杂多层膜体系以及多种元素成分分析的检测需求，无论是常见金属元素还是一些稀有元素的镀层检测都能胜任。