当仪器发射的 X 射线照射到样品表面时,镀层及基体材料中的原子会吸收 X 射线的能量,使内层电子被激发并跃迁到高能级。当这些电子回到低能级时,会释放出具有特定能量的荧光 X 射线。不同元素发射的荧光 X 射线能量不同,通过检测这些荧光 X 射线的能量和强度,结合仪器内置的校准曲线和算法,就可以精确测量出镀层的厚度以及元素组成。
FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240:常用于无损测量细小工件上的镀层厚度和材料分析,适用于对十分微小零部件、接插件和线材的镀层测量,以及印刷电路板上的手动测量、珠宝和手表业中的测量等
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