菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237信息

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237硬件配置

XDAL237 配备高精度比例计数管探测器，可在短时间内实现高计数率，确保重复测量精度。其微聚焦 X 射线管（钨靶，最高 50kV/50W）结合 4 个可切换准直器和 3 种基本滤片，可灵活适应不同材料的检测需求，最小测量点直径达 0.1 毫米。设备还集成了带变焦功能的彩色视频摄像头和激光指示器，支持测量点的快速定位与精确定位。

自动化设计

该仪器采用可编程的 XY 轴电动工作台及 Z 轴升降系统，可实现批量样品的自动化扫描和测量，特别适合生产线中的质量控制。例如，在电子元器件检测中，工作台能自动移动至预设位置，配合电调 Z 轴实现微米级精度的镀层厚度分析。

测量范围与精度

适用镀层厚度范围为 0.01-50μm，可检测从铝（Al）到铀（U）的多种元素，满足从超薄镀层（如半导体芯片）到厚镀层（如汽车零部件）的全场景需求。在珠宝行业黄金饰品检测中，其精度可达到 ±0.01μm，满足严苛的行业标准。