菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237 X射线测厚仪信息

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237硬件配置

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237典型的应用领域有：

•  分析小于 的超薄镀层

•  测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

•  测定复杂的多镀层系统

•  全自动测量，如在质量控制领域

•  分析焊锡中铅含量

•  配备可选的 SDD 探测器：可测量镍磷中的磷含量

设计用途：能量色散X射线荧光材料分析及镀层测厚仪用来测量薄镀层和微小结构，分析合金和微量组分。

形式设计：台式仪器，测量门向上开启可编程的工作台和电调的轴马达驱动的可更换的准直器和基本滤片

视频摄像头和激光点（类）定位测量点。

测量方向：从上到下。