X 射线荧光测厚仪 XDL 系列信息
更新时间：2025-08-05 点击次数：74次
德国菲希尔 X 射线荧光测厚仪 XDL 系列，以其性能在材料检测领域占据重要地位。其中，XDL 230 是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它采用手动方式，能精准测量和分析印刷电路板、防护及装饰性镀层，以及大规模生产零部件上的镀层。
XDL 230 具备诸多出色特性。在稳定性方面表现良好，长期使用无需频繁校准仪器，为用户节省了大量时间与精力。其比例接收器可实现高计数率，从而保障了高精度测量，能精准检测出镀层厚度的细微差别。该仪器采用 FISCHER 基本参数法，突破传统限制，无论是复杂的镀层系统，还是固体和液体样品，均可在无标准片的情况下完成测量和分析，极大提升了检测的灵活性与便捷性。
从操作便利性来看，XDL 230 是一款用户界面友好的台式测量仪器。手动操作的 XY 工作台搭配马达驱动的 Z 轴系统，方便灵活。高分辨率的彩色视频摄像头具有强大放大功能，可精确定位测量位置，操作人员还能通过视频窗口实时观察测量过程和进度。仪器配备的激光点，进一步辅助定位，能快速对准测量位置。测量箱底部的开槽设计，专为面积大而形状扁平的样品打造，使仪器可测量比测量箱更长和更宽的样品，比如大型的印制电路板，轻松满足多样化的检测需求。
苏公网安备32021402002647
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