FISCHER代理XDL230 铁上镀镍测厚仪信息

德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪产品简介：

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。

菲希尔X射线测厚仪FISCHER XDL230 有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器，比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了FISCHER基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。

德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪产品应用：

测量大规模生产的电镀部件

测量超薄镀层，例如：装饰铬

测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

测量印刷线路板

分析电镀溶液