COULOSCOPE CMS2库伦测厚仪信息

COULOSCOPE CMS2 和 CMS2 STEP：这两款库伦法测厚仪为台式仪器，用于涂层厚度和电化学电位测量。当涂层厚度超过一定范围，X 射线荧光法进行无损测量达到极限的时，COULOSCOPE® CMS2 可发挥作用，通过电解层剥离精确可靠地测量几乎所有金属涂层的厚度。该仪器操作简便，具有广泛的适用性，适用于多种涂层 - 基体组合。它还拥有近 100 种针对不同涂层系统（如铁上锌、黄铜上镍等）的预定义测量任务，能实现高精度测量。此外，COULOSCOPE® CMS2 STEP 除了能进行库伦法涂层厚度测量外，还可测量电化学电位。例如在多层镍涂层的质量控制中，可同时测量电位差和层厚度，对于确定涂层的腐蚀行为等性能非常有帮助，适用于电镀行业的生产监控以及成品零件的来料检验等场景。