菲希尔XDL荧光射线测厚仪信息

菲希尔X荧光射线测厚仪，XDL系列

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列是德国菲希尔公司生产的一款高精度、能量色散型X射线荧光（EDXRF）测厚与材料分析仪。该系列仪器基于广泛应用的XDL-B型升级而来，适用于镀层厚度测量、材料成分分析及电镀液分析，广泛应用于质量控制、来料检验和生产流程监控。

主要特点

无损检测：对样品无损伤，适合精密零部件和批量生产检测。

无需标准片：采用基本参数法（Fundamental Parameters Method），可在无标准样品的情况下进行精确测量。

元素测量范围：可检测从氯（Cl, 原子序数17）到铀（U, 原子序数92） 的元素。

测量距离灵活：支持0–80 mm的测量距离，配备DCM（Distance Compensation Method）测量距离补偿技术，确保在不同距离下测量精度稳定。

高分辨率成像：内置高分辨率CCD彩色摄像头，便于精确定位测量区域。

坚固设计：C型开槽大容量测量舱，适合大型或复杂形状工件。