菲希尔X射线测厚仪FISCHER XAN500信息

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XAN500产品形态与设计：具有多样化的形态，既可以作为手持式设备使用，也能作为封闭式的台式机，还能直接整合到生产线中。作为手持式设备时，其重量为 1.9 千克，采用三点支撑设计，确保测量位置准确和结果重复性，搭配带有 WinFTM 软件的平板电脑，操作便捷。

核心技术：采用能量色散型 X 射线荧光技术（ED-XaRF），配备高性能硅漂移探测器（SDD）和优化的 X 射线管，可实现对从轻元素（如铝、镁）到重元素（如金、铅）的高灵敏度检测，支持多达五层镀层的同时测量，满足复杂结构镀层的测量需求。

测量精度：高分辨率硅漂移探测器（SDD）的分辨率≤140eV，确保了超薄镀层的测量精度，其测量重复性和稳定性佳，尤其适用于微米甚至纳米级镀层的精密测量。

操作与软件：搭载菲希尔专有的 WinFTM® 测量软件，操作界面直观简洁，支持一键式测量、自动校准、数据统计及报告生成，同时具备强大的数据库管理功能，便于企业进行质量追溯与过程控制。