菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL210（已停产）信息

FISCHERSCOPE X-RAY XDL210是德国 Helmut Fischer 公司生产的能量色散型 X 射线荧光 (EDXRF) 镀层测厚及材料分析仪，专为无损测量镀层厚度和材料成分分析设计。作为 XDL 系列的基础型号，它具有结构简单、操作便捷、稳定性高的特点，特别适合质量控制、进料检验和生产流程监控。

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL210技术优势

无损检测：不损伤被测样品，特别适合贵重或已安装部件

高精度：采用 FISCHER 基本参数法，无需标准片即可测量分析

操作简便：配备高分辨率彩色摄像机和放大功能，定位精准

稳定性好：长期稳定性优异，减少校准频率

远距离测量：DCM 技术使测量距离可达 80mm，适应复杂结构

应用领域

1. 电镀行业

大批量生产的电镀零件 (螺丝、螺栓、螺母等) 质量控制 

多层镀层 (如锌 / 镍 / 铬) 厚度测量和成分分析

2. 电子与 PCB

印刷线路板 (PCB) 镀层测量 (铜、锡、金等)

电子元件和触点镀层检测

半导体行业功能性镀层分析

3. 其他领域

汽车零部件镀层检测

卫浴、五金产品表面处理质量监控

电镀槽液成分浓度分析