德国菲希尔XDL230 X射线荧光测厚仪：精准测量，高效应用

XDL230型号X射线荧光测厚仪凭借的性能和广泛的应用领域，成为工业检测领域的明星产品。该仪器采用X射线荧光技术，能够快速、准确地测量金属镀层厚度，适用于多种基材和镀层组合。

技术特点与优势

XDL230测厚仪的核心优势在于其高精度测量能力。仪器采用的X射线荧光技术，通过激发样品表面镀层产生荧光，分析荧光强度来确定镀层厚度。这种非破坏性测量方法确保了样品完整性，同时提供高的测量精度，满足工业领域对质量控制的高要求。

仪器设计紧凑轻便，操作界面直观友好，配备高清显示屏和简单易用的菜单系统，使测量过程高效便捷。内置数据存储功能可记录大量测量数据，便于后续分析和报告生成。

应用领域

XDL230广泛应用于多个工业领域：

• 电子行业：测量电路板镀层厚度

• 汽车制造：检测零部件镀层质量

• 珠宝首饰：评估贵金属镀层

• 航空航天：确保关键部件镀层符合标准

• 金属加工：监控镀层工艺质量