菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XULM240产品信息

菲希尔X射线测厚仪FISCHER XULM240测量原理：采用 X 射线荧光法（XRF），通过 X 射线激发样品表面镀层，分析荧光信号强度反推镀层厚度与元素成分，实现非破坏性检测。

关键组件：配备带玻璃窗口或铍窗口的钨靶微聚焦 X 射线管（50kV/50W），比例计数器探测器，4 个自动切换准直器（0.05×0.05mm 至 Ø0.3mm）和 3 个自动切换基本滤片，还内置 500 万像素彩色视频显微镜（38x-184x 变焦）。

应用领域：适用于线路板工业中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB 等镀层测量，电子行业接插件和触点的镀层测量，装饰性镀层 Cr/Ni/Cu/ABS 测量，电镀镀层如螺栓和螺母上的防腐蚀保护层 Zn/Fe、ZnNi/Fe 测量，以及珠宝和钟表工业、电镀液中金属成分含量测定等领域。