FISCHER代理X射线测厚仪X-RAY XDL230信息

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230

1.射线源与探测器

X 射线管：带铍窗口的钨靶，三档高压可调 (30kV/40kV/50kV)，功率 120W，寿命较上一代提升40%+

探测器：比例计数器，高计数率，快速测量响应

准直器：可选固定或可更换，最小测量光斑约0.2mm

初级滤光片：固定或自动切换，适配不同元素测量需求

2. 测量能力

元素范围：氯 (Cl,17) 至铀 (U,92)

同时测量元素数：最多 24 种 (需 WinFTM® BASIC 软件)

测量方法：菲希尔基本参数法 (FP)，支持无标样测量

镀层标准：符合 ISO 3497 与 ASTM B 568 国际标准

测量距离：0-80mm，电动 Z 轴行程 140mm，自动精度补偿

3. 机械系统

XY 工作台：手动操作，行程 200mm×200mm (标准)，激光定位辅助快速找样

Z 轴：电动驱动，可编程控制，适应复杂形状样品 (如腔体零件)

样品台：可容纳多种尺寸样品，防护盖确保辐射安全

4. 软件系统

WinFTM® 软件：直观操作界面，支持测量程序创建、数据管理、报告生成

功能模块：镀层厚度测量、材料成分分析、溶液分析、统计过程控制 (SPC)

数据输出：支持多种格式导出，可与 ERP 系统集成