菲希尔、X射线测厚仪、FISCHERSCOPE X-RAY XDL240信息

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL240核心测量原理与设计

采用自上而下的 XRF 测量方式；通过钨靶 X 射线管激发样品，比例计数管接收特征荧光，结合WinFTM®软件与DCM 距离补偿技术，可在 0–80mm 距离下稳定测量，无需反复调焦；最多解析 25 层复合镀层，元素覆盖 Ti (22) 至 U (92)。

配备电动 XY 工作台（开门自动移出至装载位）+可编程 Z 轴（行程 140mm）；集成带十字线与变焦的视频显微镜、一级激光定位，方便精准找点。

C 型槽防护罩可测大型扁平样品（如大 PCB 板）；整机符合辐射安全标准并带联锁保护。

关键技术参数

射线源与探测器：钨靶 X 射线管（铍窗），30/40/50kV 三档高压；标准准直器 0.3mm，可选 0.1/0.2mm 或狭缝型；最小测量光斑约 0.2mm；比例计数管探测器。

工作台：XY 行程 255×235mm，移动速度 80mm/s，重复定位精度 0.01mm；样品高度 140mm，承重可选 5kg/20kg；可用台面 300×350mm。

环境与电气：工作温度 10–40°C，湿度≤95%（无凝露）；AC 115/230V，50/60Hz，功耗≤120W（不含电脑）；整机重量约 120kg。

性能：金层 60 秒测量重复性优于 1%；符合 DIN ISO 3497、ASTM B568 标准。