菲希尔X射线测厚仪XULM240信息

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XULM240关键测量性能

镀层量程全覆盖

超薄～厚镀层通测：50nm 金（Au） ~ 100μm 锡（Sn）；兼容金、银、镍、铜、铬、锌、锌镍、钯、铑等主流电镀层

精度与重复性

标准片校准：Au＞0.1μm 误差＜±5%；无标样 FP 基本参数法＜±10%

超薄金典型表现：80nm 金层 20s 测量，重复误差仅 ±2.5nm，变异系数 COV＜5%

多层 / 合金分析能力

支持单层、双层、三层复合镀层（如 ABS 底 Cr/Ni/Cu、连接器 Au/Ni/Cu）

FP 无标样法：固体镀层、电镀液金属浓度、多元合金成分均可直接分析

元素检测范围：氯 Cl (17) ~ 铀 U (92)，最多同步分析 5 层镀层、24 种元素（升级 WinFTM BASIC 软件）

配套软件 WinFTM

标配：WinFTM LIGHT（基础测厚、报表、公差判定）

可选升级：

BASIC：合金分析、电镀液成分、多层复杂镀层算法

PDM/SUPER：SPC 统计、批量自动记录、导出 Excel、对接产线 MES

功能：自定义上下公差、自动 NG/OK 标记、存储测量曲线、导出检测报告