X射线测厚仪FISCHER XDL230信息

菲希尔 XDL230 是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光（EDXRF）测厚及材料分析仪，主要用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析

菲希尔X射线测厚仪FISCHER XDL230主要特点与技术

无需标样校准：采用菲希尔基本参数法（FP），内置纯元素频谱库，能对固体、液体及镀层系统进行无标样分析。

DCM 距离补偿技术：保护的测量距离补偿法，支持 0~80 mm 的测量距离，便于测量腔体内部或表面不平整的样品。

专用开槽设计：测量箱底部开槽，可容纳并测量比测量箱更长、更宽的大型扁平样品，如大型印制电路板。

典型应用领域

电镀与五金：测量防护性镀层（如 Zn/Fe）和装饰性镀层（如 Cr/Ni/Cu/ABS）。

电子与半导体：印刷电路板（PCB）镀层（如 Au/Ni/Cu）、连接器触点镀层及功能性镀层测量。

溶液分析：分析电镀槽液中的金属离子浓度（如 Cu, Ni, Au 等）。