菲希尔X-ray系列测厚仪信息

德国菲希尔 FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM 系列 X 射线荧光镀层测厚与材料分析仪，是一款通用性强的能量色散 X 射线光谱仪。该系列作为成熟的 FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4 模型系列的升级产品，延续了前代设备的核心优势，尤其适用于无损厚度测量、薄涂层分析，以及批量生产零件和印制板的自动化测量。

该系列包含三个型号：

XDLM 测量系统在接插件和触点的镀层测量中应用广泛，可精准检测各类基材上的 Au/Ni、Au/PdNi/Ni、Ag/Ni 或 Sn/Ni 等镀层厚度。由于这类产品的功能区多为细小结构（如凹槽、突起等），测量时需搭配小尺寸准直器或适配样品形状的专用准直器。例如，针对椭圆形样品，采用开槽准直器可有效提升信号强度，确保测量精度。