涡流相敏测厚仪测量精度受哪些因素影响
更新时间：2022-07-15 点击次数：887次
涡流相敏测厚仪采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍。
涡流相敏测厚仪测量精度受哪些因素影响：
1、基底金属磁性法测厚受基底金属磁性变化的影响。为了防止溶液和冷加工因素的影响，应使用与试样母材具有相同性能的标准件来校准仪器。也可以使用待涂覆的试件进行校准。
2、基底金属厚度每个仪器都有基底金属的临界厚度。当厚度大于此值时，测量不受母材厚度的影响。
3、边缘效应器对试样外表面形状的突变很敏感。因此，在试样边缘或内角附近进行测量是不可靠的。
4、曲率试样的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的增加而显著增加。
母材的外表面粗糙度和护罩的外表面粗糙度水平对测量有影响。粗糙度增加，影响增加。粗糙的外表面会引起系统误差和偶然误差。在每次测量期间，应减少不同位置的测量次数，以抑制这种意外误差。
6、磁场周围各种电气设施产生的强磁场将极大地干扰涡流测厚仪的使用。
7、附着物对与覆盖层外表面紧密接触的物质敏感，因此有必要清除附着物，以确保仪器探头与试件外表面直接接触。
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